SJ 50033.4-1994 半导体分立器件.GP和GT级GF 111型半导体红色发光二极管详细规范
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ID： |
6B46F4165A1B45078CB2FA1BBBD5B844 |
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文件大小(MB)： |
0.49 |
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10 |
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日期： |
2024-7-28 |
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SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/4-94,半导体分立器件,GP和GT级GF 111型半导体红色,发光二极管详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification for semiconductor red light emitting,diodes for type GF 111 of GP and GT classes,1994-09-30 发布1994-12-01 实施,中华人民共和国电子工业部 批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,GP和GT级GF 111型半导体红色,发光二极管详细规范,SJ 50033/4-94,Semiconductor discrete device,Detail specification for semiconductor red light emitting,diodes for type GF 111 of GP and GT classes,范围,1.I 主题内容,本规范规定了 GF 111型半导体红色发光二极管的详细要求。该种器件按GJB 33《半导体,分立器件总规范》的规定,提供产品保证的二个等级(GP和GT级),1.2 外形尺寸,见图1,1.3 最大额定值,注:1)脉冲宽度。,5ms,且 P fmj.av) U Phmd,2)脉冲宽度1阳,每秒300个脉冲(33pps),3)Ta>50>时按1.6mW/,C线性地降额,厶了几ア匕RR) 「■p FM 3) Top T，，?,mA mA(pk) ACpk),V,7r = IOjuA,mW(pk) C c,35 60 1.0 5 120 -55-100 —55~100,1.4主要光特性和电特性(Ta = 25'C),ム,(mA),hi,(med),7y2,(med),匕,(v),ん,(nm) -,小,(pF),厶,(的,G = 20mA,6=00,『f —20mA,8 =30°,ム ~Z0mA,嚴—0,7-1MHz,Vr=3V,典型值最小值最小值最大值最小值最大值最大值最大值,20 1.0 0,50 3.0 690 700 100 1,中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01 实施,—1 一,sj 50033/4-94,2引用文件,下列文件的有效版本,在本规范规定的范围内,构成本规范的一部分,GJB 33—85 半导体分立器件总规范,GJB 128-86 半导体分立器件试验方法,SJ 2355. 1.SJ 2355.7半导体发光器件测试方法,SJ/Z 9014.2 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件,3要求,3.I 概述,各条要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 缩写、符号和定义,本规范使用的缩写、符号和定义应符合GJB 33、SJ/Z 9014. 2和下列的规定,A-——发光强度,灰一ー发光二极管峰值辐射波长,ム——正向脉冲峰值工作电流,ム付--- 正向瞬态峰值电流,3—以光源对称轴为中心轴的立体角,在该角内测量光强。 （,LED——发光二极管 ,3.3 设计、结构和外形尺寸,LED的设计、结构和外形尺寸如图1所示,3.3.1 半导体芯片材料,芯片结构材料为璘珅化緑（GaAsP） 0,3.3.2 引线涂层,引线涂层应镀金,也可按照合同规定（见6. 2）镀锡,3. 3.3引线长度,当要求器件直接用于专用设备电路的安装或自动装配技术程序时,可按合同的规定（见,6. 2）提供引线长度不同于图1规定的器件,3.4 性能特性,性能特性应符合表1、2、3和5的规定（表5仅适用于“GT”级器件）,3.5 标志,制造厂有权选择将GJB 33中规定的下列标志从管体上省略。 ’,a.制造厂的识别,4质量保证规定,4.!抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验应包括表L2和3中规定的检验和试验,-2—,SJ 50033/4-94,4.3 筛选（仅对GT级）,GT级器件应按表5中规定的步骤和条件进行百分之百的检验,批中所有器件都应进行表5中ん、ム和ユ三个参数的测试,并将测试结果记录下来。所有,器件都应做识别标志,以使老化试验后做ム参数的最终测试。老化前经密封试脸或トム和匕,参数测试失效的器件应从批中剔除,且在批记录中记录下剔除的失效器件数和型号.老化后超,过△极限值的所有器件应从批中剔除,且在批记录中记录下剔除的失效器件数。如果老化后,有百分之十或更多的器件失效,则整个批不能做为GT级器件,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应包括A、B和C组中规定的检験和试验,以及下面的规定,4.4.1 如果制造厂选择下面的方法做试验,那么应在做相应的B组试验之前,指定C组检验,中使用的样品,而且计算c组检验接收或拒收的失效器件数应等于B组检验中指定继续做C,组检验的样品中出现的失效器件数加上C组检验中出现的失效器件数,a.在做C组检验中的每ー项寿命试验时,制造厂有权选择將已经过34（）h B组寿命试验,的全部或部分样品再进行660h的寿命试验,以满足C组寿命试验1000b的要求,b.在做C组检验中的热冲击（温度循环）试验时,制造厂有权选择将已经过!0次循环,的B组热冲击试验的全部样品或部分样品再进行!5次循环,以満足C组试验25次循环的要,求,4-4.2 C组检验应在初始批时开始进行,然后在生产过程中每隔6个月进行ー次,如果合同中已作规定（见6. 2）,那么制造厂应将质量一致性检睑数据连同产品ー起提供,4.5 检验……
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